電子產(chǎn)品可靠性試驗特點和方法及介紹

一、電子產(chǎn)品的可靠性試驗介紹：

為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。試驗目的通常有如下幾方面：

  1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況。

  2、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息。

  3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收。

  4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理。

  5、為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。 

對于不同的產(chǎn)品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法。可靠性試驗有多種分類方法，如以環(huán)境條件來劃分，可分為包括各種應力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗。以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗。若按試驗目的來劃分，則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗。若按試驗性質(zhì)來劃分，也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類，即環(huán)境試驗、壽命試驗、篩選試驗、現(xiàn)場使用試驗和鑒定試驗。 

  1、環(huán)境試驗是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應能力，是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。 

  2、壽命試驗是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。壽命試驗是可靠性試驗中zui重要zui基本的項目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗，可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。如結(jié)合失效分析，可進一步弄清導致產(chǎn)品失效的主要失效機理，作為可靠性設(shè)計、可靠性預測、改進新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應力的方法進行試驗，這就是加速壽命試驗。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。 

  3、篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。 

二、可靠性篩選試驗的特點是：

1、這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗。

2、該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個產(chǎn)品的壽命。

3、不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。淘汰率高，有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴重缺陷，但也有可能是篩選應力強度太高。淘汰率低，有可能產(chǎn)品缺陷少，但也可能是篩選應力的強度和試驗時間不足造成的。 

通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來評價篩選方法的優(yōu)劣：合理的篩選方法應該是β值較大，而Q值適中。 

上述各種試驗都是通過模擬現(xiàn)場條件來進行的。模擬試驗由于受設(shè)備條件的限制，往往只能對產(chǎn)品施加單一應力，有時也可以施加雙應力，這與實際使用環(huán)境條件有很大差異，因而未能如實地、全面地暴露產(chǎn)品的質(zhì)量情況。現(xiàn)場使用試驗則不同，因為它是在使用現(xiàn)場進行，故zui能真實地反映產(chǎn)品的可靠性問題，所獲得的數(shù)據(jù)對于產(chǎn)品的可靠性預測、設(shè)計和保證有很高價值。對制定可靠性試驗計劃、驗證可靠性試驗方法和評價試驗性，現(xiàn)場使用試驗的作用則更大。 

鑒定試驗是對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價時而做的試驗。它是根據(jù)抽樣理論制定出來的抽樣方案。在保證生產(chǎn)者不致使質(zhì)量符合標準的產(chǎn)品被拒收的條件下進行鑒定試驗。

三、可靠性試驗方法：

    電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。 

    *種方法是“試驗——問題記錄——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進行改進，而是把問題記錄下來，待在一個試驗階段結(jié)束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機理，集中地進行改進，然后再進行試驗。采用這種試驗法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進。這種試驗法，比較適用于一批試驗機中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。 

    第二種方法是“試驗——改進——再試驗"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機理，找出問題就立即改進，然后再試驗證實所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進行必要的改進是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴重問題的情況，針對性較強。 

    第三種方法是“含延緩改進的試驗——改進——再試驗"模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題，有些改進在試驗中了產(chǎn)品的問題，有些改進在試驗中立即著手進行，有些延緩到試驗結(jié)束后再作改進。在試驗中，對能及時改進的問題，立即采取措施改進產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗階段結(jié)束后，把延緩的問題至下次試驗開始前進行改進，然后再進行試驗，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進的，另一些問題卻需要相當一段時間才能改進的綜合情況。 

    對于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應用。可靠性試驗中常用的三種方法往往是周而復始地循環(huán)，并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長，另外可靠性試驗除通過系統(tǒng)試驗外，還應根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié)，進行綜合的科學分析，做相應的改進，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段對其固有可靠性有進一步的提高。 

四、結(jié)束語 

電子產(chǎn)品的可靠性十分重要，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標。我國電子儀器的可靠性試驗遵循的標準是GB11463《電子測量儀器可靠性試驗》，一般產(chǎn)品在鑒定時的可靠性指標是300H，如果按常用的定時截尾試驗方案進行可靠性考核，總的試驗時間要達到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段經(jīng)歷了反復多次的“試驗——分析——改進——再試驗"的可靠性增長試驗過程。在這個過程中，由于采取了改進設(shè)計及工藝措施等一系列措施來消除失效，使失效的發(fā)生逐漸減少，而可靠性得以增長。我國的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標比較先進標準還有差距，因此必須對國內(nèi)外相關(guān)標準進行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計、生產(chǎn)、試驗和使用全過程中對可靠性水平作出準確的評價，從而大大提高我國電子產(chǎn)品的可靠性水平，使產(chǎn)品質(zhì)量達到*水平。